全自动近红外应变测试仪LSM-9100WNIR型号开发公告

 关于去年9月推出的全自动近红外应变测试仪LSM-9100WNIR，

我们收到了客户的反馈，正在开发高相位差型和低相位差型两种型号。

■高延迟型（销售）
全自动近红外应变测试仪：LSM-9100WNIR
可以通过表面分布评估着色树脂的应变。

■低相位差型（开发中）
全自动近红外线畸变测试仪：LSM-9001NIR（暂定名）
目前正在开发用于半导体晶片等以前难以处理的低相位差样品。
也可以进行预评估，所以如果您可以保留样品，我们将对其进行评估。

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